气化分子进入离子源后遭遇 70 eV 电子束,被击出电子形成正离子;过剩内能引发碎裂,产生一系列特征碎片离子。70 eV 是惯例能量,使谱图在不同仪器间高度一致。
EI 属硬电离:碎片化强,常使分子离子峰很弱甚至消失,但碎片“指纹”稳定,利于未知物鉴定。
正因为谱图可重复,EI 催生了庞大的标准谱库(如 NIST),使“采一张谱→比对库→报结构”成为常规工作流,是化合物筛查与确证最成熟的手段之一。
这在成像语境外价值最大;成像本身少以 EI 为主源,但成像发现的未知峰可经提取+GC-EI-MS 做库检索确证。
EI 的硬电离与 MALDI/DESI/LDPI 的软电离互补:软电离保留准分子离子回答“是什么分子”,EI 提供碎片指纹回答“结构如何”。现代工作流常以软电离成像+MS/MS 或离线 EI 验证结合。
因此 EI 在成像中多作为下游结构确证工具,而非原位成像主源。
EI 需样品气化且热稳定,不适合蛋白/肽等大分子与热敏分子;且不提供空间坐标。对直接原位成像应优先软电离成像源。
选型建议:未知小分子结构鉴定、GC-MS 定性优先 EI;原位分布成像优先 MALDI/DESI/LDPI/DPI 等,并以 EI/库检索做确证。
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