SIMS 用聚焦的一次离子束(如 Ga+、Bi3+ 团簇)轰击样品,束斑可聚焦到亚微米甚至纳米级,每个轰击点即一个像素,因此分辨率由离子束尺寸决定,确可到纳米尺度。
这正是它在材料科学、细胞器与脂质筏研究中不可替代的原因——其他 MSI 源(MALDI 数微米、DESI/LDPI 数十微米至 2–3 μm)都达不到这种尺度。
SIMS 是硬电离:一次离子高能轰击使分子溅射并严重碎裂,蛋白质、多肽等大分子在溅射过程中结构被破坏,难以以完整分子离子形式被检测到。
因此 SIMS 对完整蛋白成像能力弱,更多用于元素、无机离子、脂质与小分子代谢物。需要看完整蛋白/多肽空间分布,仍应以 MALDI 为主。
SIMS 的独占优势在元素与表面化学(材料、生物矿化、半导体掺杂)、以及纳米级脂质分布。它能在单细胞乃至亚细胞层面刻画脂质异质性。
对药物/代谢物纳米分布,SIMS 也可胜任,但需注意硬电离带来的碎片复杂性;免基质常压源(LDPI 2–3 μm)则以更低门槛覆盖单细胞尺度的小分子。
当你的问题真正需要纳米级空间分辨(如细胞器定位、材料表面化学、脂质筏)且目标为元素/脂质/小分子时,SIMS 是首选。
若目标是完整蛋白/多肽分布,或需常压免基质快速成像,则应转向 MALDI 或 LDPI/DPI。三者按「尺度 + 分子类型」组合使用,而非相互替代。
如需了解质谱成像离子源 MSI LDPI / DPI 全系列 的详细技术参数、适配型号或报价,可访问 新策源官网,或联系官方获取针对您主机(Agilent / SCIEX / Thermo 等主流质谱)的适配建议。